Els microscopis són instruments científics utilitzats per augmentar petits objectes o detalls que no són visibles a simple vista. Hi ha diversos tipus de microscopis, cadascun amb les seves pròpies característiques i aplicacions úniques. Aquests són alguns tipus de microscopis comuns i les seves diferències:
Microscopis òptics: els microscopis òptics utilitzen llum visible i un sistema de lents per ampliar i observar mostres. Hi ha diversos subtipus de microscopis òptics, incloent:
Microscopis compostos: aquests microscopis utilitzen múltiples lents per augmentar la mostra. S'utilitzen habitualment en biologia i medicina.
Microscopis estèreo: també coneguts com a microscopis de dissecció, els microscopis estereològics proporcionen una visió tridimensional de la mostra i sovint s'utilitzen per a la dissecció o l'examen d'espècimens més grans.
Microscopis de fluorescència: aquests microscopis utilitzen longituds d'ona específiques de la llum per excitar molècules fluorescents de la mostra, permetent la visualització d'estructures o molècules específiques.
Microscopis electrònics: els microscopis electrònics utilitzen un feix d'electrons en lloc de llum per augmentar la mostra. Ofereixen un augment i una resolució molt més alts que els microscopis òptics. Hi ha dos tipus principals de microscopis electrònics:
Microscopis electrònics d'escaneig (SEM): els SEM produeixen una imatge detallada i tridimensional de la mostra escanejant la superfície amb un feix d'electrons enfocat. S'utilitzen habitualment en la ciència dels materials i la biologia.
Microscopis electrònics de transmissió (TEM): els TEM transmeten un feix d'electrons a través d'una secció prima de la mostra, creant una imatge d'alta resolució. Sovint s'utilitzen per estudiar l'estructura interna de cèl·lules i materials.
Microscopis de sonda d'escaneig: els microscopis de sonda d'escaneig utilitzen una sonda física per interactuar amb la mostra, proporcionant informació detallada sobre la seva superfície. Hi ha diferents tipus de microscopis de sonda d'escaneig, que inclouen:
Microscopis de força atòmica (AFM): els AFM utilitzen una petita sonda que escaneja la superfície de la mostra, mesurant les forces entre la sonda i la mostra. Poden proporcionar informació topogràfica a escala atòmica.
Microscopis de túnel d'escaneig (STM): els STM mesuren el flux d'electrons entre la sonda i la mostra, creant una imatge de la superfície a nivell atòmic.